第三方檢測-北京
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儀器名稱：LIBSOPA 200 激光光譜原位分析儀
儀器型號：LIBSOPA 200
制 造 商：鋼研納克
原 產(chǎn) 地：中國北京
聯(lián)系電話：400 6218 010
| 真空光學(xué)系統(tǒng) | 巴邢—龍格架法 | 光柵焦距 | 750 mm | 刻線 | 2400條/mm |
| 譜線范圍 | 170 ~ 800 nm | 分辨率 | 優(yōu)于0.01 nm | 電源 | 220V/20A |
| 尺寸 | 寬×深×高（155 cm×75 cm×160cm） | 重量 | 毛重約700 Kg |
儀器介紹
激光光譜原位分析儀(LIBSOPA-200)是激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析技術(shù)（LIBS）和原位統(tǒng)計(jì)分布分析技術(shù)（OPA）完美結(jié)合的新型分析儀器。激光誘導(dǎo)擊穿光譜原位統(tǒng)計(jì)分布分析技術(shù)(LIBSOPA)通過高能激光聚焦于樣品表面，樣品被擊穿形成高溫等離子體，通過檢測等離子體光譜信號，獲得樣品的成分及元素分布信息的技術(shù)。其分析原理是：樣品表面被高能激光擊穿形成等離子體，等離子體光線經(jīng)過濾波,分光之后被多通道的光電倍增管檢測系統(tǒng)檢測。根據(jù)光譜特征譜線波長得出被擊穿位點(diǎn)的元素種類;定標(biāo)后對應(yīng)譜線的強(qiáng)度表示被擊穿位點(diǎn)元素的濃度。借助精密三維移動(dòng)平臺在樣品激發(fā)表面很好的定位和記錄，實(shí)現(xiàn)任意點(diǎn)掃描，一維線性掃描，一維深度分析和二維面掃描分析，并據(jù)此獲得與材料原位置相對應(yīng)的各元素原始含量及狀態(tài)信息，可以用統(tǒng)計(jì)解析的方法定量表征材料的偏析度、疏松度等信息。該方法不但有激光光譜的非接觸分析，微區(qū)分析，深度分析的優(yōu)點(diǎn)，又具備原位統(tǒng)計(jì)分布分析技術(shù)的原位性和統(tǒng)計(jì)性。LIBSOPA-200的研制成功為材料成分分析，缺陷分析，涂鍍層等樣品的分析應(yīng)用提供了新的技術(shù)手段及質(zhì)量判據(jù)。
儀器特點(diǎn)
1. 首臺LIBS技術(shù)與OPA技術(shù)結(jié)合的新型分析儀器，多項(xiàng)專利技術(shù)。
2. 多元素同時(shí)分析。28個(gè)元素通道，包含C,P,S元素，線性關(guān)系良好；
3. 預(yù)剝蝕時(shí)間，積分時(shí)間，門控延遲時(shí)間動(dòng)態(tài)可調(diào)。
4. 分析簡便、快速，無前處理過程，避免樣品被污染；
5. 分析不受樣品尺寸，狀態(tài)，導(dǎo)電性，難熔與否的影響；
6. LIBS具有高靈敏度與高空間分辨率，非常適合涂層材料、薄膜材料分析；
7. 微小燒蝕光斑可進(jìn)行局部微區(qū)分析，表面微損分析，適合材料缺陷分析；
8. 非接觸測量，響應(yīng)迅速，分析時(shí)間短，可滿足實(shí)時(shí)分析以及在線分析的要求。
掃描二維碼
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